Неисправности, вызывающие геометрические искажения растра

Регулировку геометрических параметров растра необходимо проводить всякий раз после за мены кинескопа или микросхемы памяти. Регулировку проводят в сервисном режиме по следую щей методике.

На НЧ-вход телевизора подают сигнал "сетчатого поля" и устанавливают примерно средние значения яркости, контрастности и насыщенности. Дают телевизору прогреться в течение 15 мин.

В сервисном режиме в соответствии с табл. 1 регулируют изображение по минимуму геометрических искажений. Перемещение по MENU производят красной и зеленой кнопками, а изменение значения параметра кнопками VOL+/-. Для запоминания новых данных и перевода телевизора в рабочий режим дважды нажимают кнопку "Вкп TV".

Регулировка угла поворота изображения производится с помощью переменного резистора RV301, расположенного на плате D.

Ниже рассмотрены неисправности, которые не удается устранить описанной регулировкой.

Края горизонтальных линий сверху растра опущены вниз

Это происходит из-за смещения или выпадения верхнего фиксирующего клина под отклоняющей системой, что приводит к ее перекосу. Для устранения дефекта клин устанавливают на прежнее место и приклеивают к стеклянной колбе кинескопа клеем "Момент" или ему подобным. Предварительно поверхность стекла в месте приклеивания и поверхность резинового клина тщательно очищают от остатков старого клея и обезжиривают.

Искривление вертикальных линий по краям растра. Подушкообразные искажения

Такие искажения возникают из-за того, что радиус отклонения электронных лучей не совпадает с радиусом кривизны экрана кинескопа. Устраняются искажения коррекцией подушкообразных искажений.

Искривление вертикальных линий (подушка) с левой стороны растра. Размер по горизонтали завышен

Наиболее вероятная причина неисправности — утечка в конденсаторе С813.

В первую очередь проверяют исправность транзисторов Q800, Q801 (рис. 4) и конденсаторов С813, С814, расположенных на плате D. Осциллографом контролируют наличие и форму сигналов на выв. 5 — 7 микросхемы IC800 и на коллекторах транзисторов Q800, Q801 (рис. 4, осц. 1 — 3). По результатам замеров определяют неисправный элемент.